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uv紫外可見分光光度計(jì)儀器功能1.光度測量:固定波長下檢測樣品的吸光度和透過率2.定量測量:C模式下單點(diǎn)法測試 F模式下可輸入C=KA+B準(zhǔn)確測量濃度 :
品牌 | 析譜 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
---|---|---|---|
加工定制 | 是 |
uv紫外可見分光光度計(jì)波長范圍:190-1100nm
光譜帶寬:4nm
波長準(zhǔn)確度:±1nm
波長重復(fù)性:0. 2nm
光度準(zhǔn)確度:±0.5%T
光度重復(fù)性:0.2%T
雜散光:0.2%T(220/340nm處)
穩(wěn)定性:±0.001A/h(500nm處)
顯示方式:液晶顯示器
zui小分辨率0.1nm
uv紫外可見分光光度計(jì)基本原理是利用在光的照射下待測樣品內(nèi) 部的電子躍遷,電子躍遷類型有: (1)σ→σ* 躍遷 指處于成鍵軌道上的 σ 電子吸收光子后被激發(fā)躍遷到 σ* 反鍵軌道 ?。?)n→σ* 躍遷 指分子中處于非鍵軌道上的 n 電子吸收能量后向 σ*反鍵軌 道的躍遷 ?。?)π→π* 躍遷 指不飽和鍵中的 π 電子吸收光波能量后躍遷到 π*反鍵軌 道。 ?。?)n→π* 躍遷 指分子中處于非鍵軌道上的 n 電子吸收能量后向 π*反鍵軌 道的躍遷 。 電子躍遷類型不同,實(shí)際躍遷需要的能量不同: σ→σ* ~150nm n→σ* ~200nm π→π* ~200nm n→π* ~300nm 吸收能量的次序?yàn)椋?sigma;→σ*>n→σ*≥π→π*>n→π* 特殊的結(jié)構(gòu)就會(huì)有特殊的電子躍遷,對(duì)應(yīng)著不同的能量(波長),反反映在紫 外可見吸收光譜圖上就有一定位置一定強(qiáng)度的吸收峰,根據(jù)吸收峰的位置和強(qiáng)度就可 以推知待測樣品的結(jié)構(gòu)信息。uv紫外可見分光光度計(jì)
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